实验四 X荧光测量标准工作曲线的测定

实验四   X荧光测量标准工作曲线的测定

 

一、实验目的

1、学习X荧光测量仪器的使用

2、掌握X荧光仪器能量刻度

3、掌握X荧光方法定量分析标准曲线的测定

 

二、实验内容

1、X荧光测量仪器的基本原理及操作规程

2、X荧光仪的能量度刻度

3、测定纯铜标准样品的标准工作曲线

 

三、实验原理

用标准样品与待测样品进行比较,使用公式:

式中IA为待测元素样品计数率;I标为待测元素标准样品的计数率;CA为待测元素的含量,C标为待测元素标准样品的含量。

所以只要测出待测元素样品的计数率就可得出该样品的含量。在实际工作中不般不是用待测元素的一个标准样品进行对比,而是采用一组已知含量的标准样品,通常3-5个标准样品,制作含量与计数率工作曲线,如图:

 

这样只要测量待测样品的计数率,在标准曲线上就可求出待测样品的含量,当然需要待测元素样品与标准元素样品成分一致,这样可克服基体效应的影响。

 

四、实验设备

1、便携式X射线荧光仪一台;

2、台式计算机及测量及处理软件一套;

3、已知不同含量的铜标准样品若干;

 

五、操作步骤

1、首先进行能量刻度,使256道中对应相应的能量特征峰,一般用Cu8.03Kα8.9kevKβ特征能量进行刻度。步骤为:将Cu片放到探测器的探头上,打开软件,点出“test”,设定好测量时间,点击第三个按钮,即开始测量,在测量的过程中要记下所测物质的X射线的KαKβ峰所对应的特征峰的道址;等测量结束后进行“数据管理”窗口中的“检查一年分析结果”,这时会弹出一个输入密码对话框,在没有密码的情况下直接点击“确定”即可,在又弹出的文件对话框中将文件名为“Kd.dat”,点击“确定”,这样文件会打开,将文件记录的标号和特征峰对应的道址和能量进行修改,然后将其保存起来,然后再点击工具栏中的“C”,移动光标会看到道址所对应的能量,能量刻度完成。

2、参数设置:将标准样品放到探头上,点击“test”,同样也要记下所测样品的“能量范围”和“特征峰”等数据,停止测量后,点击工具栏“参数设置”的“设置测量道”,点“替换”,再点击“存盘返回”,这样完成了对道宽的修改。

3标定曲线的测量:从主菜单中进行标定曲线,用已知的不同浓度的样品进行标定测量,在对每一种样品测量前,要在弹出的对活框输入所测样品的标号和含量,当所有样品都测量完毕后,再点击“C”,即计算系数,可以看到电脑自动算出的拟合和公式,这时可以记下“拟合公式”,点击“数据管理”下的“检查标定分析结果”,点击“误差分析”,可以看出误差数据,返回后再点击“数据管理”的“检查标定分析结果”下的“拟合公式”,将原有的公式形式要改为:“TCu0-100 -0,269452+1.977275*Cu”的形式同时点击“数据管理”的“另存为”,将文件改为“1#.dat”,即对应的1-6号公式。

4、分析样品:对待测样品进行测量分析,点击主菜单中的“分析样品”,在弹出的对框输入几号样品和所选的公式,然后点击“开始测量”即可。等测量结束屏幕上会显示测的样品的含量,可以依次测量其他的待测样品。当所有的待测品分析完毕时,可以点击“D”看样品的线性图。

 

六、编写实验报告

1、便携式X荧光仪定性与定量分析的基本原理

2、便携式X荧光仪的样品分析操作过程

3、未知待测样品成分谱的测定

4、铜标准工作曲线的测定过程及绘制工作曲线

 

七、思考题

1、在含铜黄铁矿中,测铜含量,如何克服铁的干扰?

2、提高X射线荧光探测灵敏度的途径?

3、野外现场样品的标准工作曲线如何测定?

最新发布日期:2017-11-09, 作者:刘菁华, 阅读次数: